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测量显微镜
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金相显微镜
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<p><span style="font-family: 宋体; font-size: 14px;">金相显微镜是一种常用的显微镜产品，是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术结合在一起而开发研制成的高科技产品。用来观察不透明物质的表面现象进行研究分析等工作;芯片、印刷电路板、液晶板、线材、纤维、镀涂层以及其它非金属材料等。</span></p><p><br/></p>
原子力显微镜
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<p>原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。</p>
扫描电子显微镜
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<p><span style="font-size: 14px; color: rgb(0, 0, 0);">扫描电子显微镜，简称为扫描电镜，英文缩写为SEM(Scanning</span><span style="font-size: 14px;"> Electron Microscope)。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面，通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。现在SEM都与能谱(EDS)组合，可以进行成分分析。所以，SEM也是显微结构分析的主要仪器，已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等领域。<br/><span style="color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; text-wrap: wrap; font-size: 14px;"><br/>场发射扫描电子显微镜之能谱仪（Energy Dispersive Spectrometer）。它是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。</span></span></p><p><span style="text-wrap: wrap;"></span></p>
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